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產品型號:
所屬分類:超聲波測厚儀
產品時間:2024-09-09
簡要描述:日本nanogray β射線測厚儀SB-1100系列通常,為了測量片材的寬度方向上的厚度分布,檢測系統(tǒng)由掃描儀攜帶并進行測量。通常使用激光位移計作為不接觸地測量厚度的手段,但是如果將激光位移計安裝在掃描儀上,則其傳送的精度遠遠低于激光位移計的精度,從而導致結果。高精度測量是困難的。
日本nanogray β射線測厚儀SB-1100系列
這是使用β射線(beta射線)的測厚儀(膜厚計)。以非接觸方式(β射線)測量薄片和板狀物體的厚度和密度(基本重量)。通過直接與參考物質比較來計算厚度和密度(基本重量),而不是直接測量厚度。
通常,為了測量片材的寬度方向上的厚度分布,檢測系統(tǒng)由掃描儀攜帶并進行測量。通常使用激光位移計作為不接觸地測量厚度的手段,但是如果將激光位移計安裝在掃描儀上,則其傳送的精度遠遠低于激光位移計的精度,從而導致結果。高精度測量是困難的。
另一方面,在諸如β射線測厚儀之類的通過透射衰減來估計厚度的方法中,測量了空氣層-樣本-空氣層與滲透之間的衰減,但是樣本的衰減遠大于空氣的影響,運輸的影響僅表現為空氣層厚度的變化,并且影響很小。因此,可以高精度地進行測量。
β射線測厚儀的一般特點
我們的β射線測厚儀與常規(guī)β射線測厚儀相比的特點
采用
日本nanogray β射線測厚儀SB-1100系列
貝塔射線測厚儀SB-1100
β射線測厚儀SB-1100的規(guī)格 | |
物品 | 規(guī)格 |
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姓名 | 貝塔射線測厚儀SB-1100 |
測量方法 | Beta射線透射法 |
驗證碼 | 設置114(帶顯示的認證設備) |
檢測方式 | 閃爍檢測器方法 |
測量間距 | 標準2mm(可提供更細的間距) |
掃描寬度 | 標準150-3000mm(也可提供其他寬度) |
掃描速度 | 15-200毫米/秒(標準) |
框架結構 | O型等各種鏡框 |
測量范圍 | 0-200克/平方米2 |
光斑尺寸 | 約φ8.0mm(標準)(上班) |
Beta射線源 | 80 x 110毫米x 235毫米(標準) |
檢測單元 | 80 x 110毫米x 235毫米(標準) |
電源 | 100V單相1kVA |